101 أثر

  توصيف المقرر
(101 أثر)
قسم الآثار

ملحقات المادة الدراسية

EE-610 Semiconductor Characterization Techniques

Bulk, surface and interface parameters  electrical methods (resistivity, lifetime, mobility dopant, profile, physical methods (optical microscopy, TEM, SEM, Xray topography, ellipsometry. Chemical methods (NAA, mass spectroscopy, emission spectroscopy, Xray fluorescence, ion-microprobe, electron microprobe, photo-luminescence, infrared spectroscopy).

ملحقات المادة الدراسية

الصفحات

اشترك ب KSU Faculty آر.إس.إس